天瑞Skyray EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀

產(chǎn)品說明、技術參數(shù)及配置

EDXThick800是一款全新上照式多功能自動微區(qū)X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸的三維系統(tǒng)、雙激光定位和保護系統(tǒng),可多點位編程測試,被廣泛應用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量。

儀器配置

01 獨立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)

02 微焦斑X光管

03 可變高壓電源

04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護

05 Fast-SDD探測器

06 雙激光定位裝置

07 標配可自動切換的準直孔和濾光片

軟件優(yōu)勢

1、清晰化操作界面布局

簡約的布局設計,讓操作員快速的掌握軟件基本操作。

2、快捷鍵按鈕設計

增加了日常鍍層測量快捷鍵設計按鈕,可快速檢測,提升工作效率。

3、高清可視化窗口

可清晰直觀的觀測到被檢測樣品的狀態(tài),通過自動對焦、移動快捷鍵,調(diào)節(jié)到用戶要求的觀測效果。

4、多通道數(shù)字譜圖界面

清晰化呈現(xiàn)被檢樣品的元素譜圖,配合先進的解譜技術,便可精準計算出結(jié)果。

5、測試結(jié)果匯總布局設計

可快速查找當前測試數(shù)據(jù),并可對測試數(shù)據(jù)進行報告生成,且快速查詢以往測試數(shù)據(jù)。

天瑞EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀應用行業(yè)：

航天新能源

電子通訊

電鍍行業(yè)

高校及科研院

貴金屬鍍飾

磁性材料

天瑞Skyray EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀